栅线投影测量技术可以测量物体的表面三维形貌，通过测量不同状态下形貌的变化就可以测量物体自三维变形。栅线投影测量具有很大的量程范围，因此该方法特别适用于大变形测量。同时该仪器采用了正弦栅线和相移技术进行栅线变化的位相分析使得测量分辨率最高可以达到X、Y方向最大尺寸的五万分一。
主要技术指标：
1、 正弦栅线密度：任意可调
2、 摄像头分辨率：1280×1024
3、 成像镜头：f25mm
4、 三维形貌最大测量范围：X、Y(300mm×300mm)，Z(100mm)
5、 测量分辨率(X、Y最大尺寸的)：1/1000(X、Y方向)，1/200(Z方向)
6、 测量距离(f25镜头)：300mm～1200mm。
7、 适用于物理光栅和投影机产生的光栅图案。
8、灵活的相移算法，只要有三幅或三幅以上的相移图都可以处理。
9、可以处理恒定但未知相移角的相移图。
